Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/sonkra/ftp/dfelectronics/Library/Zend/Cache/Backend.php on line 79
Urządzenia plazmowe, czyszczenie, aktywacja powierzchni, pomiar cienkich warstw, zasilacz magnetronowy, sputtering

produkty

Pomiar grubości osadzania cienkich warstw

overview

EDFelectronics oferuje urządzenia oraz akcesoria do pomiaru grubości osadzania cienkich warstw. W portfolio produktów znaleźć można regulatory osadzania, monitory grubości nanoszonych warstw (oscylatory), wagi kwarcowe. Oprócz standardowych produktów, EDFelectronics oferuje również rozwiązania skrojone na miarę indywidualnych potrzeb.